GAZI UNIVERSITY INFORMATION PACKAGE - 2019 ACADEMIC YEAR
COURSE DESCRIPTION
X-RAYS TECHNOLOGIES AND APPLICATIONS/5381302 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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COURSE INFO | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- LANGUAGE OF INSTRUCTION | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Turkish | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- NAME OF LECTURER(S) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Assoc.Prof. Mustafa Kemal ÖZTÜRK | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- WEB SITE(S) OF LECTURER(S) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
www.gazi.edu.tr/~ozturkm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- EMAIL(S) OF LECTURER(S) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ozturkm@gazi.edu.tr | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- LEARNING OUTCOMES OF THE COURSE UNIT | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Basic Concepts, X-Ray Optics, Bragg Brentano geometry Qualitative and Quantitative Analysis, Phase Diagrams identification, crystal size, crystal perfection, the crystal orientation X-Ray Reflection (XRR), amorphous, crystalline, Determination of Surface and Interfacial Roughness for the organic and non-organic films and Thicknes Treatment Rietveld Method, Analysis software (Topas, Jade, X'Pert Highscore, ...) High-resolution X-ray diffraction (HRXRD), Three-axis scattering, Symmetric and Asymmetric Locked Coupled, Theta, 2-Theta, omega/2-thet, Phi measureme lattice strain in the Formal Functional Materials, Lattice Mismatch, Composition, Thickness, Bending, Twist and Propagation of Mosaic, Dislocation, La small and wide incidence angle (GIA XD), Diffraction Imaging and Mapping defects, dislocation Views Small and Wide Angle X-Ray Scattering Techniques and Applications (Biological Nano-molecules Size, Shape and Distribution ...) Stress, spouse and semi-Bending Mode, permanent and shear stress, sin2 Method, X-Ray Based Analysis Techniques (X-Ray Microscopy, lithography, topography, tomography ...) |
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-- MODE OF DELIVERY | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
The mode of delivery of this course is Face to face | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- PREREQUISITES AND CO-REQUISITES | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
There is no prerequisite or co-requisite for this course. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- RECOMMENDED OPTIONAL PROGRAMME COMPONENTS | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Solid state | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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-- RECOMMENDED OR REQUIRED READING | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
1)X-Işınları Difraksiyonu (Cullity) 2)X-ray Metrology in Semiconductor Manufacturing, (D. Keith Bowen, Brian K. Tanner) 2006 by Taylor & Francis Group, LLC 3)X-ray diffraction, C. Suryanarayana and M Grand Norton 4) Günther Bauer, Wolfgang Ricther, Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers, Springer-Verlag, Berlin, 19962) S. Perkowitz, Optical Characterization of Epitaxial semiconductor layers, Academic Pres Limited, London, 1993 5)Handbook of X-Ray Spectrometry: Methods and Techniques (Practical Spectroscopy, Vol 14) [Hardcover] Rene E. Van Grieken (Author), R. Van Grieken(Editor), Andrzej A. Markowicz (Editor) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- PLANNED LEARNING ACTIVITIES AND TEACHING METHODS | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Application with X-Ray device | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- WORK PLACEMENT(S) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Aplication with X-Ray | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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