GAZİ ÜNİVERSİTESİ BİLGİ PAKETİ - 2019 AKADEMİK YILI
DERS TANIMI
X IŞINLARI VE TEKNOLOJİLERİ VE UYGULAMALARI/5381302 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
DERS BİLGİLERİ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- DERSİN DİLİ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Türkçe | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖĞRETİM ELEMAN(LAR)I | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Doç. Dr. M. Kemal ÖZTÜRK | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖĞRETİM ELEMANI WEB SİTESİ/SİTELERİ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
www.gazi.edu.tr/~ozturkm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖĞRETİM ELEMANI E-POSTASI/E-POSTALARI | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ozturkm@gazi.edu.tr | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖĞRENME ÇIKTILARI | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Temel Kavramlar, X-Işınları Optik, Bragg Brentano geometri Kalitatif ve Kantitatif analiz, Faz Diyagram tanımlaması, Kristal Büyüklüğü, Kristal Mükemmelliği, Kristal Yönlenmesi X-Işınları Yansıması (XRR), Amorf, Kristal, Organik ve Organik Olmayan filmler için Yüzey ve Arayüzey Pürüzlüğün ve Kalınlığın Belirlenmesi, Kırılma İ Rietveld Arıtım Metodu, Analiz programları (Topas, Jade, X’pert Highscore,…) Yüksek çözünürlüklü X-ışını kırınımı (HRXRD), Üç eksenli Saçılma, Simetrik ve Asimetrik Locked Coupled, Theta, 2-Theta, Omega/2-Theta, Phi ölçümleri Fonksiyonel Malzemelerde Örgü Zoru, Örgü Uyumsuzluğu, Komposizyon, Kalınlık, Eğilme, Burkulma ve Mozaik Yayılım, Dislokasyon, Örgü Rahatlaması, Küçük Gelme Açısında İç Düzlem Kırılması (GIIXD), Kırınım Görüntüleme ve Kusur Haritalama, Dislokasyon Görüntüleme Küçük ve Geniş Açılı X-Işını Saçılması Tekniği Ve Uygulamaları(Biyolojik Nano-Möleküllerin Büyüklüğü, Şekli Ve Dağılımı…) Gerilme, Eş Ve Yan Eğilme Modu, Kalıcı Ve Kayma Gerilme, Sin2 Metodu, X-Işınları Temelli Analiz Teknikleri (X-Işınları Mikroskopi, Litografi, Topografi, Tomografi …) |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- DERSİN VERİLİŞ BİÇİMİ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Bu ders sadece yüz yüze eğitim şeklinde yürütülmektedir. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- DERSİN ÖNKOŞULLARI | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Bu dersin önkoşulu yada eş koşulu bulunmamaktadır. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖNERİLEN DERSLER | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Katıhal fiziği | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ZORUNLU YA DA ÖNERİLEN KAYNAKLAR | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
1)X-Işınları Difraksiyonu (Cullity) 2)X-ray Metrology in Semiconductor Manufacturing, (D. Keith Bowen, Brian K. Tanner) 2006 by Taylor & Francis Group, LLC 3)X-ray diffraction, C. Suryanarayana and M Grand Norton 4) Günther Bauer, Wolfgang Ricther, Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers, Springer-Verlag, Berlin, 19962) S. Perkowitz, Optical Characterization of Epitaxial semiconductor layers, Academic Pres Limited, London, 1993 5)Handbook of X-Ray Spectrometry: Methods and Techniques (Practical Spectroscopy, Vol 14) [Hardcover] Rene E. Van Grieken (Author), R. Van Grieken(Editor), Andrzej A. Markowicz (Editor) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- ÖĞRETİM YÖNTEM VE TEKNİKLERİ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X-Ray Cıhaz ile uygulama | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-- STAJ / UYGULAMA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X-Işınları ile uygulama | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|